Spektroskopi Sistemleri

Hassaslık kontrolü
Hassaslık (precision) cihaz tarafından gerçekleştirilen ardışık okumalar arasındaki tutarlılıktır. Bir ölçümde ardışık okumaların tutarlı (ya da hassaslığın yüksek) olması yapılan analizin doğru olduğu anlamına gelmez. Doğruluk (accuracy) ölçülen değerin gerçek değere yakınlığıdır. İdeal bir analizde hem hassaslık hem de doğruluk beklentilerinin maksimize edilmesi hedeflenir. Genel olarak hassaslık sorunları cihaz performasından, doğruluk sorunları ise örneğin kirlenmesinden ya da doğası ile ilgili teknik sorunlardan kaynaklanır. ICP-MS laboratuvarında yüksek hassaslık ve doğruluk değerlerinin elde edilebilmesi için şu yaklaşımlar uygulanmaktadır. Hassaslık kontrolü cihazın ardışık okumalar arasındaki farkın minimalize edilmesini sağlayacak biçimde ayarlanması ile sağlanır. Doğruluk kriterinin karşılanması için yüksek kalitede standartlar, kimyasallar ve laboratuvar malzemesi kullanılır. Doğruluğun kontrolündeki önemli yaklaşımlardan birisi de bileşimi bilinen referans örneklerin diğer örneklerle aynı biçimde hazırlanması ve okunmasıdır.
Spektroskopi Hakkında Bilinmesi Gerekenler
Spektroskopinin Çalışma Prensibi
ICP-MS İndüktif Eşleşmiş Plazma (ICP) ve Kütle Spektrometresi (MS) olmak üzere iki ünitenin bileşiminden oluşmuştur. Numunedeki elementler ICP’de iyonlaştırıldıktan sonra kütle spektroskopisine (MS) gönderilir ve burada kütle/yük (m/z) oranlarına göre ayrılıp ölçülür.
ICP-MS İndüktif Eşleşmiş Plazma (ICP) ve Kütle Spektrometresi (MS) olmak üzere iki ünitenin bileşiminden oluşmuştur. Numunedeki elementler ICP’de iyonlaştırıldıktan sonra kütle spektroskopisine (MS) gönderilir ve burada kütle/yük (m/z) oranlarına göre ayrılıp ölçülür.
Kullanım Alanları
• Silah Sanayisi (Mermi Atıkları, Madde Karakterizasyonu, Zehirler)
• Gıda
• Çevre (İçme Suyu, Deniz Suyu, Atık Su, Katı atıklar, Toprak, Çamur)
• Klinik (Kan, Saç, İdrar)
• Jeoloji (Toprak, Kaya)
ICP-MS Cihazı İle Analizi Yapılabilen Elementler
Se, Fe, B, Ca, Mn, Cd, Zn, Cu, Ni, Cr, Pb, Sb, Na, Co, Mg, Y, Hg, Al, Sn, Au, Ag, As, Ba, Bi, Cs, Ga, Hf, Mo, Nb, Rb, Sc, Sr, Ta, Ti, V, W, Zr, La, P, Tl, K, Li, Be, Ge, Br, Ru, Rh, Pd, In, Te, I, Re, Os, Ir, Pt, Ce, Pr, Nd, Sm , Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, U, Th

ICP-MS Uygulamalarına Bazı Örnekler
• Jeoloji / Hidrojeoloji
• Kaya, toprak ve cevher minerallerinin jeokimyasal analizleri
• Kaya ve toprakta altın, platin gibi değerli metal analizi
• Yeraltısuyu, kaynak ve mineralli suların içme suyu kalitesinin belirlenmesi
• Mineralli ve termal su analizleri
• Toprak ve sularda ağır metal kirliliği tespiti
• Endüstriyel ham maddelerde iz element analizleri
• Hidrojeolojik çalışmalarda
• Çevre
• Su ve atık su analizi
• Toprak, çamur analizleri
• Yarı-iletkenler
• Yarı-iletken Cihazı Kalite Kontrolü
• Silikon devre levhası analizi
• Nükleer
• Nükleer atık analizleri
• Çalışma alanı etkisi / Endüstriyel Hijyen
• Kanda ve idrarda Uranyum
• Uranyum zenginleştirme ölçümleri
• Nükleer bir patlamada ortama yayılan düşük kütleli Fizyon (parçalanma) Ürünleri
• Klinik / İlaç ve Tıbbî
• Vücut sıvılarında iz metaller
• Metal zehirlenmeleri
• Çalışma alanı etkisi
• İlaç ve besin preparatlarında iz metaller
• Adlî
• Suç mahallî maddeleri tanımlamaları
• Silah atışı kalıntıları
• Kaynak doğrulaması
• Meyve suları, şaraplar, mücevherat ve değerli metaller
• Petrokimya
• Bitmiş üründe ve ham maddelerdeki safsızlıklar
• Kimyasal proses izleme
Yağ olgunluk göstergeleri

Agilent 5100 Senkronize Dual View (SVDV) ICP-OES, ICP-OES analizi bakımından alanında birincidir. Dichroic Spectral Combiner (DSC) teknolojisiyle tek ölçüde aksiyal ve radyal plazma görüntülerini yakalayabilir.

5100 ICP-OES

Agilent 5100 Senkronize Dual View (SVDV) ICP-OES, ICP-OES analizi bakımından alanında birincidir. Dichroic Spectral Combiner (DSC) teknolojisiyle tek ölçüde aksiyal ve radyal plazma görüntülerini yakalayabilir.